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基于可見-近紅外光譜和多光譜成像技術的梨損傷檢測研究
摘要：提出了利用可見-近紅外光譜技術和多光譜成像技術檢測鴨梨損傷隨時間及程度變化的新方法.利用可見-近紅外光譜技術,分別結合偏最小二乘(panial least squares,PLS)和最小二乘支持向量機(least squares-support vector machine,LS-SVM)方法對鴨梨受損程度和受損天數(shù)進行預測.結果表明,兩種方法在鴨梨損傷后期對損傷程度的判別均具有較好的效果;LS-SVM方法對鴨梨輕度損傷的損傷天數(shù)的預測精度較高,但重度損傷天數(shù)的預測效果不如PLS方法.然后利用多光譜圖像預測鴨梨受損天數(shù).研究發(fā)現(xiàn),利用LS-SVM建立的模型預測效果較穩(wěn)定,預測結果相關系數(shù)均在0.85左右.說明利用可見-近紅外光譜分析技術和多光譜成像技術能夠快速無損地檢測出鴨梨的損傷程度及時間,為鴨梨檢測提供了一種新方法. 作者： 曹芳[1] 吳迪[1] 鄭金土[2] 鮑一丹[1] 王遵義[3] 何勇[1] Author： CAO Fang[1] WU Di[1] ZHENG Jin-tu[2] BAO Yi-dan[1] WANG Zun-yi[3] HE Yong[1] 作者單位： 浙江大學生物系統(tǒng)工程與食品科學學院,浙江,杭州,310029浙江省寧波市林特科技推廣中心,浙江,寧波,315010浙江萬里學院科研處,浙江,寧波,315100 期 刊： 光譜學與光譜分析 ISTICEISCIPKU Journal： SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS 年，卷(期)： 2011, 31(4) 分類號： S123 關鍵詞： 可見-近紅外光譜 多光譜成像 鴨梨 最小二乘支持向量機 偏最小二乘法 機標分類號： D69 D9 機標關鍵詞： 近紅外光譜技術 多光譜成像技術 損傷程度 檢測研究 Multispectral Image Infrared Spectroscopy Based 鴨梨 least squares 預測效果 新方法 最小二乘支持向量機 近紅外光譜分析技術 LS-SVM 偏最小二乘 重度損傷 預測精度 預測結果 相關系數(shù) 圖像預測 基金項目： 農(nóng)業(yè)部公益性行業(yè)專項項目，浙江省重大科技專項項目，浙江省自然科學基金重點項目，寧波市重人科技攻關項目，寧波市農(nóng)業(yè)攻關-合作項目 基于可見-近紅外光譜和多光譜成像技術的梨損傷檢測研究[期刊論文] 光譜學與光譜分析 --2011, 31(4)曹芳 吳迪 鄭金土 鮑一丹 王遵義 何勇提出了利用可見-近紅外光譜技術和多光譜成像技術檢測鴨梨損傷隨時間及程度變化的新方法.利用可見-近紅外光譜技術,分別結合偏最小二乘(panial least squares,PLS)和最小二乘支持向量機(least squares-support vector m...【基于可見-近紅外光譜和多光譜成像技術的梨損傷檢測研究】相關文章：
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