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單縫衍射光強(qiáng)分布實(shí)驗(yàn)的誤差探討
本文就單縫衍射光強(qiáng)分布實(shí)驗(yàn)的誤差來(lái)源進(jìn)行分析,提出在光電流與光強(qiáng)成線性關(guān)系的前提下,產(chǎn)生誤差的主要原因是:環(huán)境本底及主極大雜散光的存在.并得出在光電探頭的線性區(qū)域內(nèi),增大主極大光強(qiáng)的強(qiáng)度和增大衍射條紋的寬度是減小誤差的有效的方法.
作 者: 黎愛(ài)珍 張錦 羅志高 作者單位: 中山大學(xué)東校區(qū)實(shí)驗(yàn)中心,廣州,510006 刊 名: 科技創(chuàng)新導(dǎo)報(bào) 英文刊名: SCIENCE AND TECHNOLOGY INNOVATION HERALD 年,卷(期): 2009 ""(35) 分類號(hào): G64 關(guān)鍵詞: 單縫衍射 環(huán)境本底 主極大雜散光【單縫衍射光強(qiáng)分布實(shí)驗(yàn)的誤差探討】相關(guān)文章:
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