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二維綜合孔徑微波輻射計(jì)誤差分析
北航電磁工程實(shí)驗(yàn)室已經(jīng)研制出的一套工作于8mm波段(34.07GHz)的10天線二維綜合孔徑微波輻射成像系統(tǒng)BHU-2D,其原理樣機(jī)采用T形陣列.對其采用相關(guān)/不相關(guān)噪聲注入法進(jìn)行誤差分析,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:相關(guān)偏置的主要原因是采集板量化前的互相耦合;通道問相位不平衡誤差為-53.89度,當(dāng)積分時(shí)間為0.2秒時(shí),其起伏不大于0.18度;由于采用數(shù)字解調(diào),IQ非正交誤差很小,可以忽略其影響,同時(shí)擬合出了條紋洗滌函數(shù).
作 者: 趙鋒 苗俊剛 胡岸勇 薛永 ZHAO Feng MIAO Jun-gang HU An-yong XUE Yong 作者單位: 北京航空航天大學(xué)電子信息工程學(xué)院,北京,100083 刊 名: 微波學(xué)報(bào) ISTIC PKU 英文刊名: JOURNAL OF MICROWAVES 年,卷(期): 2008 24(z1) 分類號: O4 關(guān)鍵詞: 綜合孔徑微波輻射計(jì) BHU-2D 相關(guān)偏置 條紋洗滌函數(shù) 通道問相位不平衡 IQ非正交誤差【二維綜合孔徑微波輻射計(jì)誤差分析】相關(guān)文章:
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