三維電阻率層析成像應(yīng)用初探

電阻率層析成像技術(shù)是20世紀(jì)80年代末期發(fā)展起來的一種電法勘探方法.該方法具有測點密度大、工作效率高等特點,兼具剖面法和測深法的功能,因此近十幾年發(fā)展迅速.但三維電阻率層析成像技術(shù)在許多技術(shù)環(huán)節(jié)上還有待完善,目前國內(nèi)外還處在理論研究和實踐探索階段.介紹了三維電阻率層析成像技術(shù)的方法原理以及單極、軸向偶極和赤道偶極裝置的特點;并用德國resecs電阻率測量系統(tǒng)對這三種裝置的應(yīng)用效果進(jìn)行了比較;且對二維觀測與三維觀測進(jìn)行了對比實驗.試驗結(jié)果表明:三種裝置的勘探效果基本相同,不過單極裝置的勘探深度要深一些,但需要布置無窮遠(yuǎn)極,比較費事;而赤道偶極的數(shù)據(jù)點比其它兩種裝置要多幾倍,測量工作比較費時;另外,三維觀測效果明顯優(yōu)于二維觀測的效果.

作 者： 周小仙 Zhou Xiaoxian   作者單位： 中國地質(zhì)大學(xué)地球物理與信息技術(shù)學(xué)院,北京,100083  刊 名： 工程地球物理學(xué)報  英文刊名： CHINESE JOURNAL OF ENGINEERING GEOPHYSICS  年，卷(期)： 2009 6(5)  分類號： P631  關(guān)鍵詞： 三維電阻率層析成像   三維觀測   單極-單極   軸向偶極   赤道偶極  

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